[发明专利]用于X射线分析装置的样品保持器在审
| 申请号： | 202180051685.0 | 申请日： | 2021-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN116368378A | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 米伦·加特什基;D·贝克尔斯;简·武特维恩 | 申请（专利权）人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张少波;杨明钊 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于保持样品的样品保持器。样品保持器包括主体，该主体具有入射表面和主体中用于接收样品的开口。当样品被用X射线照射时，样品保持器的入射表面也可能被照射，尤其是在低入射角下。为了减少来自入射表面的背景散射，入射表面包括用于阻挡X射线的突起。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 射线 分析 装置 样品 保持 | ||
【主权项】：
暂无信息
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