[发明专利]用于多采样抗锯齿的加载指令在审

专利信息
申请号: 202180045411.0 申请日: 2021-06-08
公开(公告)号: CN115769264A 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 克里斯多夫·J·布伦南;法塔内·F·古德拉特;韦田恩 申请(专利权)人: 超威半导体公司
主分类号: G06T15/00 分类号: G06T15/00
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 李献忠;张静
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了用于执行多采样抗锯齿操作的技术。该技术包括:检测用于多采样抗锯齿加载操作的指令;确定用于该加载操作的源数据的采样率、该源数据的数据存储格式和加载模式,该加载模式指示该加载操作请求相同颜色分量、不同颜色分量还是深度数据;以及基于所确定的采样率、数据存储格式和加载模式,将数据从多采样源加载到寄存器中。
搜索关键词: 用于 采样 锯齿 加载 指令
【主权项】:
暂无信息
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