[发明专利]用于多采样抗锯齿的加载指令在审

专利信息
申请号: 202180045411.0 申请日: 2021-06-08
公开(公告)号: CN115769264A 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 克里斯多夫·J·布伦南;法塔内·F·古德拉特;韦田恩 申请(专利权)人: 超威半导体公司
主分类号: G06T15/00 分类号: G06T15/00
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 李献忠;张静
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 采样 锯齿 加载 指令
【权利要求书】:

1.一种用于执行多采样抗锯齿操作的方法,所述方法包括:

检测用于多采样抗锯齿加载操作的指令;

确定用于所述加载操作的源数据的采样率、所述源数据的数据存储格式和用于所述加载操作的加载模式,其中所述加载模式指示所述加载操作请求相同颜色分量、不同颜色分量还是深度数据;以及

基于所确定的采样率、数据存储格式和加载模式,将数据从多采样源加载到寄存器中。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述数据存储格式指示样本的不同颜色分量是连续的。

3.根据权利要求2所述的方法,其中:

所述加载模式指示所述加载操作请求所述相同颜色分量;并且

从所述多采样源加载所述数据包括以大于1的步幅加载。

4.根据权利要求2所述的方法,其中:

所述加载模式指示所述加载操作请求相同样本的不同颜色分量;并且

从所述多采样源加载所述数据包括以步幅1加载。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述数据存储格式指示不同样本的所述相同颜色分量是连续的。

6.根据权利要求5所述的方法,其中:

所述加载模式指示所述加载操作请求所述相同颜色分量;并且

从所述多采样源加载所述数据包括以步幅1加载。

7.根据权利要求5所述的方法,其中:

所述加载模式指示所述加载操作请求所述相同样本的不同颜色分量;并且

从所述多采样源加载所述数据包括以大于1的步幅加载。

8.根据权利要求1所述的方法,其中:

所述源数据的采样率大于装配到所述寄存器中的元素数;并且

加载所述数据包括将像素的少于全部样本加载到所述寄存器中。

9.根据权利要求1所述的方法,其中:

所述源数据的采样率小于装配到所述寄存器中的元素数;并且

加载所述数据包括在所述寄存器中重复加载的数据。

10.一种用于执行多采样抗锯齿操作的系统,所述系统包括:

寄存器;和

处理器,所述处理器被配置为:

检测用于多采样抗锯齿加载操作的指令;

确定用于所述加载操作的源数据的采样率、所述源数据的数据存储格式和用于所述加载操作的加载模式,其中所述加载模式指示所述加载操作请求相同颜色分量、不同颜色分量还是深度数据;以及

基于所确定的采样率、数据存储格式和加载模式,将数据从多采样源加载到寄存器中。

11.根据权利要求10所述的系统,其中所述数据存储格式指示样本的不同颜色分量是连续的。

12.根据权利要求11所述的系统,其中:

所述加载模式指示所述加载操作请求所述相同颜色分量;并且

从所述多采样源加载所述数据包括以大于1的步幅加载。

13.根据权利要求11所述的系统,其中:

所述加载模式指示所述加载操作请求所述相同样本的不同颜色分量;并且

从所述多采样源加载所述数据包括以步幅1加载。

14.根据权利要求10所述的系统,其中所述数据存储格式指示不同样本的所述相同颜色分量是连续的。

15.根据权利要求14所述的系统,其中:

所述加载模式指示所述加载操作请求所述相同颜色分量;并且

从所述多采样源加载所述数据包括以步幅1加载。

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