[发明专利]使用晶体分析器和多个检测器元件的X射线吸收光谱的系统和方法在审
| 申请号： | 202180036021.7 | 申请日： | 2021-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN115667896A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 云文兵;斯里瓦特桑·塞沙德里;乔瑞敏;雅诺什·科瑞;西尔维娅·贾·云·路易斯 | 申请（专利权）人： | 斯格瑞公司 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083;G01N23/207;G01N23/20008;G21K1/06 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 朱亦林 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种装置包括晶体分析器，该晶体分析器相对于x射线源定位在切面中的罗兰圆上并具有罗兰圆半径(R)。晶体分析器包括至少在切面内沿至少一个方向弯曲的晶面，其曲率半径基本上等于罗兰圆半径的两倍(2R)。晶面被配置为接收来自x射线源的x射线，并根据布拉格定律分散接收的x射线。该装置还包括被配置为接收至少一部分分散x射线的空间分辨检测器。空间分辨检测器包括多个具有可调的第一x射线能量和/或可调的第二x射线能量的x射线检测元件。多个x射线检测元件被配置为：测量所接收的具有低于第一x射线能量的x射线能量的分散x射线，同时抑制对所接收的高于第一x射线能量的分散x射线的测量；和/或测量所接收的具有高于第二x射线能量的x射线能量的分散x射线，同时抑制对所接收的低于第二x射线能量的分散x射线的测量。第一x射线能量和第二x射线能量在1.5keV至30keV的范围内可调。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 晶体 分析器 检测器 元件 射线 吸收光谱 系统 方法 | ||
【主权项】：
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