[发明专利]CMP研磨液及研磨方法在审
| 申请号: | 202180006440.6 | 申请日: | 2021-02-12 |
| 公开(公告)号: | CN114729258A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
| 发明(设计)人: | 小林真悟;南久贵;大塚祐哉;小峰真弓;吴珍娜;高桥寿登 | 申请(专利权)人: | 昭和电工材料株式会社 |
| 主分类号: | C09K3/14 | 分类号: | C09K3/14 |
| 代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 杜娟 |
| 地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明的一方面提供一种CMP研磨液,其含有磨粒和阳离子性聚合物,阳离子性聚合物具有:包含氮原子及碳原子的主链、和键合于所述碳原子的羟基。该CMP研磨液还可以含有选自由含氨基的芳香族化合物及含氮杂环化合物组成的组中的至少一种环状化合物。本发明的另一方面提供一种研磨方法,其具备如下工序:使用该CMP研磨液来研磨被研磨材料。 | ||
| 搜索关键词: | cmp 研磨 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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