[实用新型]一种芯片测试用试验台有效

专利信息
申请号: 202123039673.2 申请日: 2021-12-01
公开(公告)号: CN216434290U 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 林高云 申请(专利权)人: 深圳市芯都半导体有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 广东奥益专利代理事务所(普通合伙) 44842 代理人: 田树杰
地址: 518100 广东省深圳市龙岗区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种芯片测试用试验台,包括:台体、输送辊及安装架,所述台体上设置有安装槽,所述安装槽内侧对称安装有输送辊,所述输送辊上连接有承载带,所述台体上固定有安装架,所述台体下端设置有控制器,所述台体上安装有伺服电机。本实用新型通过伺服电机带动输送辊及承载带转动能够将定位槽内侧芯片依次输送至测试组件下方通过柔性测试探针进行测试,以此能够提高测试效率,同时方便合格芯片的收集。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 试验台
【主权项】:
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