[实用新型]一种IC测试插座换插针结构有效
| 申请号： | 202122959210.1 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN216525936U | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 孙兆虎;吴伟 | 申请（专利权）人： | 无锡通芝微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人： | 孙建 |
| 地址： | 214028 江苏省无锡市高新*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种IC测试插座换插针结构，具体涉及IC测试技术领域，包括底座和上基座，所述上基座设在底座顶部，所述上基座顶部四角均开设有凹槽，所述上基座顶部中心处开设有嵌槽，所述嵌槽截面设置为工字形，所述嵌槽内壁表面中心处开设有圆孔。本实用新型通过先将多个插针和挡片拼在一起，使用两个插针将一个挡片夹住，避免插针靠在一起发生短路，然后再将插针和挡片的两端卡到卡槽中，合上底座和上基座就可以使用本装置了，在需要拆卸时，先将螺丝从第二螺纹孔内拧出来，然后将上基座和底座分离，最后再将多个挡片和插针从第一通孔内拿出来就可以，结构简单，方便对插针和挡片进行检查更换，使用起来非常方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 测试 插座 换插针 结构 | ||
【主权项】：
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