[实用新型]一种IC测试插座换插针结构

权利要求书

1.一种IC测试插座换插针结构，包括底座(1)和上基座(2)，所述上基座(2)设在底座(1)顶部，其特征在于：所述上基座(2)顶部四角均开设有凹槽(3)，所述上基座(2)顶部中心处开设有嵌槽(4)，所述嵌槽(4)截面设置为工字形，所述嵌槽(4)内壁表面中心处开设有圆孔(5)，所述圆孔(5)前后两侧开设有第一异形孔(6)，所述嵌槽(4)两侧开设有第一通孔(7)，两个第一通孔(7)一侧外壁均开设有第二通孔(8)，所述第一通孔(7)内壁表面开设有卡槽(9)，所述第一通孔(7)内设有多个插针(10)和多个挡片(11)，每个挡片(11)设在相邻两个插针(10)之间，所述挡片(11)和插针(10)两侧均卡在卡槽(9)内。

2.根据权利要求1所述的一种IC测试插座换插针结构，其特征在于：所述底座(1)内部开设有多个第一螺纹孔(12)，多个第一螺纹孔(12)在底座(1)上均匀分布，所述第一螺纹孔(12)内螺纹连接有螺丝(13)，每个凹槽(3)内壁表面均开设有第二螺纹孔(14)，所述螺丝(13)一端设在第二螺纹孔(14)内并与第二螺纹孔(14)螺纹连接。

3.根据权利要求1所述的一种IC测试插座换插针结构，其特征在于：所述底座(1)内部开设有多个穿孔(15)，多个插针(10)底部均贯穿穿孔(15)并延伸至底座(1)底部。

4.根据权利要求1所述的一种IC测试插座换插针结构，其特征在于：所述底座(1)内部开设有两个第二异形孔(16)，两个第二异形孔(16)分别设在两个第一异形孔(6)底部并与第一异形孔(6)底部相连通。

5.根据权利要求1所述的一种IC测试插座换插针结构，其特征在于：多个插针(10)和多个挡片(11)在第一通孔(7)内均匀分布。

6.根据权利要求1所述的一种IC测试插座换插针结构，其特征在于：所述上基座(2)底部前后两侧均固定设有插杆(17)，所述底座(1)内开设有多个插孔(18)，所述插杆(17)设在插孔(18)内并与插孔(18)插接。

7.根据权利要求1所述的一种IC测试插座换插针结构，其特征在于：所述上基座(2)内部开设有多个限位孔(19)，所述限位孔(19)内设有限位杆(20)，所述限位杆(20)固定设在底座(1)上。