[实用新型]一种IC测试插座换插针结构

说明书

本实用新型公开了一种IC测试插座换插针结构，具体涉及IC测试技术领域，包括底座和上基座，所述上基座设在底座顶部，所述上基座顶部四角均开设有凹槽，所述上基座顶部中心处开设有嵌槽，所述嵌槽截面设置为工字形，所述嵌槽内壁表面中心处开设有圆孔。本实用新型通过先将多个插针和挡片拼在一起，使用两个插针将一个挡片夹住，避免插针靠在一起发生短路，然后再将插针和挡片的两端卡到卡槽中，合上底座和上基座就可以使用本装置了，在需要拆卸时，先将螺丝从第二螺纹孔内拧出来，然后将上基座和底座分离，最后再将多个挡片和插针从第一通孔内拿出来就可以，结构简单，方便对插针和挡片进行检查更换，使用起来非常方便。

技术领域

本实用新型涉及IC测试技术领域，更具体地说是一种IC测试插座换插针结构。

背景技术

目前，日常生活中所用到的IC芯片有SOP、DIP等众多封装形式，一个产品在生产过程中会有多种封装形式，用以满足不同应用场景，因此IC的生产测试中需要众多的定制电路板、测试座来进行检测，现有的通用IC芯片都是固定在测试座上来实现无损更换，具体步骤为，将IC芯片对应型号的测试插座直接焊接在PCB电路测试板上，IC芯片的触点与测试插座接触后通过按压实现良好接触，使IC芯片与PCB电路测试板的电气连接，然后进行一系列测试操作。

现有的测试插座都是注塑一体成型,插座内多个插针之间的距离是固定的,经过大规模量产，无法适应少量应用的特殊销距布局设计要求,工作人员在更换起来非常麻烦。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种IC测试插座换插针结构，以解决上述背景技术中出现的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种IC测试插座换插针结构，包括底座和上基座，所述上基座设在底座顶部，所述上基座顶部四角均开设有凹槽，所述上基座顶部中心处开设有嵌槽，所述嵌槽截面设置为工字形，所述嵌槽内壁表面中心处开设有圆孔，所述圆孔前后两侧开设有第一异形孔，所述嵌槽两侧开设有第一通孔，两个第一通孔一侧外壁均开设有第二通孔，所述第一通孔内壁表面开设有卡槽，所述第一通孔内设有多个插针和多个挡片，每个挡片设在相邻两个插针之间，所述挡片和插针两侧均卡在卡槽内。

在一个优选地实施方式中，所述底座内部开设有多个第一螺纹孔，多个第一螺纹孔在底座上均匀分布，所述第一螺纹孔内螺纹连接有螺丝，每个凹槽内壁表面均开设有第二螺纹孔，所述螺丝一端设在第二螺纹孔内并与第二螺纹孔螺纹连接，使用螺丝拧到第一螺纹孔和第二螺纹孔内，提高上基座和底座之间的连接牢固性。

在一个优选地实施方式中，所述底座内部开设有多个穿孔，多个插针底部均贯穿穿孔并延伸至底座底部，每个插针的一端都插在穿孔内，利用穿孔可以对插针起到导向的作用。

在一个优选地实施方式中，所述底座内部开设有两个第二异形孔，两个第二异形孔分别设在两个第一异形孔底部并与第一异形孔底部相连通，方便将本装置与外界设备进行安装。

在一个优选地实施方式中，多个插针和多个挡片在第一通孔内均匀分布，方便工作人员对插针和挡片进行检查更换。

在一个优选地实施方式中，所述上基座底部前后两侧均固定设有插杆，所述底座内开设有多个插孔，所述插杆设在插孔内并与插孔插接，在安装底座时，只需将插杆对准上基座内的插孔插入就可以了，起到导向的作用。

在一个优选地实施方式中，所述上基座内部开设有多个限位孔，所述限位孔内设有限位杆，所述限位杆固定设在底座上，限位杆对准限位孔插入，进一步起到导向的作用。

本实用新型的技术效果和优点：