[实用新型]一种芯片自动化测试装置有效
申请号: | 202121591445.3 | 申请日: | 2021-07-14 |
公开(公告)号: | CN216117888U | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 林瑾 | 申请(专利权)人: | 深圳市凯创芯科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518101 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片自动化测试装置,包括底座,所述底座的一侧内壁中部固定连接有电动机,且底座的另一侧中部开设有圆形开口,所述电动机的输出轴固定连接有第一转动杆,所述第一转动杆在圆形开口处延伸至底座的外部,所述底座的两侧内壁之间的两侧分别转动连接有第二转动杆和第三转动杆。本实用新型通过设置电动机,电动机驱动第一转动杆带动第一皮带轮转动,第一皮带轮通过皮带使得第二转动杆转动,第二转动杆带动转动辊转动即可使得传送带运行,从而在进行芯片测试时可以利用不断运行的传送带来输送芯片,使得芯片的测试称为流水线工序,提高了芯片测试的效率,让测试过程更为方便和简单。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 自动化 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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