[实用新型]一种芯片自动化测试装置

权利要求书

1.一种芯片自动化测试装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的一侧内壁中部固定连接有电动机(14)，且底座(1)的另一侧中部开设有圆形开口，所述电动机(14)的输出轴固定连接有第一转动杆(3)，所述第一转动杆(3)在圆形开口处延伸至底座(1)的外部，所述底座(1)的两侧内壁之间的两侧分别转动连接有第二转动杆(15)和第三转动杆(18)，所述第二转动杆(15)的外部远离电动机(14)的一端和第一转动杆(3)处于底座(1)内部的杆体外部均通过键连接有第一皮带轮(2)，两个所述第一皮带轮(2)的外部套设有同一个第一皮带(16)，所述第二转动杆(15)和第三转动杆(18)的外部均固定连接有转动辊(19)，两个所述转动辊(19)的外部套设有同一个传送带(17)，所述底座(1)的顶端在传送带(17)的顶端处开设有矩形开口。

2.根据权利要求1所述的一种芯片自动化测试装置，其特征在于，所述底座(1)的顶端远离电动机(14)的一侧固定连接有固定桩(7)，所述固定桩(7)的顶端转动连接有转动轴(6)，所述转动轴(6)远离电动机(14)的一端和第一转动杆(3)处于底座(1)外部的一端均通过键连接有第二皮带轮(4)，两个所述第二皮带轮(4)的外部套设有同一个第二皮带(5)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片自动化测试装置，其特征在于，所述底座(1)的顶端在固定桩(7)和矩形开口之间处固定连接有固定筒(10)，所述固定筒(10)靠近固定桩(7)的一侧底端开设有圆形通孔，所述转动轴(6)远离第二皮带轮(4)的一端在圆形通孔处延伸至固定筒(10)的内部，且转动轴(6)处于固定筒(10)内部的一端通过键连接有第一锥齿轮(12)。

4.根据权利要求3所述的一种芯片自动化测试装置，其特征在于，所述固定筒(10)的顶端内壁和底端内壁之间转动连接有往复丝杠(11)，所述往复丝杠(11)的外部底端通过键连接有第二锥齿轮(13)，所述第二锥齿轮(13)与第一锥齿轮(12)啮合。

5.根据权利要求4所述的一种芯片自动化测试装置，其特征在于，所述往复丝杠(11)的外部螺纹连接有固定板(8)，所述固定筒(10)远离固定桩(7)的一侧开设有条形开口，所述固定板(8)在条形开口处延伸至固定筒(10)的外部，且固定板(8)的底端远离往复丝杠(11)的一侧固定连接有测试探针(9)。

6.根据权利要求1所述的一种芯片自动化测试装置，其特征在于，所述传送带(17)的外部开设有若干凹槽(20)。