[实用新型]一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置有效
| 申请号： | 202121389609.4 | 申请日： | 2021-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN216013548U | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 林俊荣;王宏;吕河江 | 申请（专利权）人： | 乙力国际股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/28;G01N21/88;G01N21/95;G01N21/84;H01L33/00 |
| 代理公司： | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人： | 钟华;任永利 |
| 地址： | 中国台湾台北市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种用于检测微型LED芯片(1)质量的分检装置，微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多个LED晶片(11)；多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12)，且分别具有独立的第一正电极(13)；分检装置包括电性能检测单元(2)，电性能检测单元(2)包括检测单元主体(21)以及一个第二正电极(22)和一个第二负电极(23)。通过将多个LED晶片(11)以共阴极和共阳极的方式电连接到电性能检测单元(2)上，当电性能检测单元(2)与外界电源连接时，多个LED晶片(11)相当于并联形式连接到电源上，从而同时检测出多个LED晶片(11)的发光情况，完成分区域检测，较以往单颗点亮提高了效率，微型LED得以实现快速质量检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 微型 led 芯片 质量 装置 | ||
【主权项】：
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