[实用新型]一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置

权利要求书

1.一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置，其特征在于，微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及固定于所述芯片基板(15)上的多个LED晶片(11)；多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12)，且多个LED晶片(11)分别具有独立的第一正电极(13)；

所述分检装置包括电性能检测单元(2)，所述电性能检测单元(2)包括检测单元主体(21)以及位于所述检测单元主体(21)上的一个第二正电极(22)和一个第二负电极(23)；

所述微型LED芯片(1)位于所述分检装置上方；且多个所述LED晶片(11)的所述第一正电极(13)与所述第二正电极(22)电连接，所述第一负电极(12)与所述第二负电极(23)电连接；

所述电性能检测单元(2)与外界电源电连接。

2.根据权利要求1所述的分检装置，其特征在于，所述第二正电极(22)和所述第二负电极(23)为检测面板，以使多个所述LED晶片(11)以共阴极和共阳极的方式电连接到所述电性能检测单元(2)上。

3.根据权利要求1所述的分检装置，其特征在于，所述分检装置还包括图像采集单元(3)，其可以在电源连接后，采集多个所述LED晶片(11)的发光情况。

4.根据权利要求3所述的分检装置，其特征在于，所述图像采集单元(3)包括多个CCD相机。

5.根据权利要求1所述的分检装置，其特征在于，所述分检装置还包括负压吸附单元(4)，用于吸取所述微型LED芯片(1)，并将其放置在所述电性能检测单元(2)上。

6.根据权利要求5所述的分检装置，其特征在于，所述负压吸附单元(4)包括负压吸附单元主体(41)、抽气口(42)和负压吸附孔(43)，所述抽气口(42)处连接有抽气装置，抽出所述负压吸附单元主体(41)内的空气，使所述负压吸附孔(43)处为负压环境，进而产生吸力，吸取所述微型LED芯片(1)。

7.根据权利要求6所述的分检装置，其特征在于，所述负压吸附单元主体(41)是透明的，选自石英、玻璃；所述芯片基板(15)的所述负压吸附孔(43)分布在所述芯片基板(15)的显示区域外的四周，且避开靶标点位置。

8.根据权利要求3所述的分检装置，其特征在于，所述芯片基板(15)上还具有第一对位靶标(14)，所述检测单元主体(21)上具有第二对位靶标(24)；所述第一对位靶标(14)和所述第二对位靶标(24)匹配，使得所述微型LED芯片(1)和所述电性能检测单元(2)对应，进而使得所述第一正电极(13)与所述第二正电极(22)电连接，所述第一负电极(12)与所述第二负电极(23)电连接。

9.根据权利要求8所述的分检装置，其特征在于，所述分检装置还包括精准对位平台(5)，所述精准对位平台(5)可以控制所述电性能检测单元(2)在X、Y、Z、θ轴移动对位；

所述图像采集单元(3)和所述精准对位平台(5)均与外界的电脑主机连接，首先通过所述第一对位靶标(14)和所述第二对位靶标(24)使得所述微型LED芯片(1)和所述电性能检测单元(2)在位置上对应，所述图像采集单元(3)采集所述第一对位靶标(14)和所述第二对位靶标(24)处的图像，并将该图像信息反馈到外界的电脑主机，电脑主机根据该图像信息和设定值，通过调控精准对位平台(5)，进一步对所述第一对位靶标(14)和所述第二对位靶标(24)的位置进行调整。