[实用新型]一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置

说明书

本实用新型公开一种用于检测微型LED芯片(1)质量的分检装置，微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多个LED晶片(11)；多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12)，且分别具有独立的第一正电极(13)；分检装置包括电性能检测单元(2)，电性能检测单元(2)包括检测单元主体(21)以及一个第二正电极(22)和一个第二负电极(23)。通过将多个LED晶片(11)以共阴极和共阳极的方式电连接到电性能检测单元(2)上，当电性能检测单元(2)与外界电源连接时，多个LED晶片(11)相当于并联形式连接到电源上，从而同时检测出多个LED晶片(11)的发光情况，完成分区域检测，较以往单颗点亮提高了效率，微型LED得以实现快速质量检测。

技术领域

本实用新型专利属于微型LED显示屏技术领域，具体涉及一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置。

背景技术

Micro LED(微型LED)显示器具有分辨率高、亮度高、功耗低、色彩饱和度高、寿命长等优点。可以适应各种尺寸无缝拼接等优势。就目前而言，具有下代显示技术的潜力。

Micro LED芯片键合前，在生产过程中难免会有损坏、缺失、等情况，如果不提前分检出合格品，不良品，与不合格品，首选不良品下流产线会造成显示器不良、次品增多，其次不合格品下流产线会产生更多报废品造成浪费,也就是说如果不对Micro LED芯片质量进行检测，那与不合格Micro LED芯片组合后的控制面板也会浪费。所以在Micro LED芯片进行下一步工艺钱如何分检出合格品与不良品及报废品，并通过分检，修复坏点是一个急需解决的问题。

目前LED检测一般都采用探针式检测，探针式检测准确率高，但是无法适用更高分辨率的Micro LED,由于MicroLED分辨率更高，很小的一块MicroLED显示屏中就含有大量的LED晶片，比如一块0.39寸左右的Micro LED显示屏，其中含有的LED晶片大概有240万颗，如果选用探针式单颗检测，那时间太久，不适合产线量产，无法满足经济要求。

为了解决以上问题，提出本实用新型。

实用新型内容

本实用新型具有以下目的：1.解决Micro LED芯片难以分检的问题。2.让MicroLED分检简单易操作、提高检测效率。3.解决Micro LED检测过程复杂，准确性不高。4.解决Micro LED在分拣中不受损坏，保证分检良率。

本实用新型提供一种用于微型LED芯片的分检装置，微型LED芯片1包括芯片基板15以及固定于所述芯片基板15上的多个LED晶片11；多个LED晶片11具有共同的第一负电极12，且多个LED晶片11分别具有独立的第一正电极13；

所述分检装置包括电性能检测单元2，所述电性能检测单元2包括检测单元主体21以及位于所述检测单元主体21上的一个第二正电极22和一个第二负电极23；

所述微型LED芯片1位于所述分检装置上方；且多个所述LED晶片11的所述第一正电极13与所述第二正电极22电连接，所述第一负电极12与所述第二负电极23电连接；

所述电性能检测单元2与外界电源电连接。

LED晶片也就是通称的LED灯珠，本质上就是LED发光二极管。

优选地，所述第二正电极22和所述第二负电极23为检测面板，以使多个所述LED晶片11以共阴极和共阳极的方式电连接到所述电性能检测单元2上。所述第二正电极22和所述第二负电极23由铜或铝等金属材料制作，所述电性能检测单元2固定在精准对位平台5上。本实用新型由于是共正极和共负极检测面板，所以对检测对位精度要求低，正电极和负电极可以一次检测整个Micro LED原件，测试精准，节省时间。

优选地，所述分检装置还包括图像采集单元3，其可以在电源连接后，采集多个所述LED晶片11的发光情况。