[实用新型]光学膜的光学评价装置和系统有效

专利信息
申请号: 202120437228.2 申请日: 2021-03-01
公开(公告)号: CN214374340U 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 张国翠 申请(专利权)人: 住化电子材料科技(无锡)有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/25;G01N21/01
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及光学膜的光学评价装置和系统。本实用新型的光学膜的光学评价装置从上到下依次包括离型层、各向同性透明薄膜和可挠曲反射基板,所述离型层和所述各向同性透明薄膜的面积等于或大于所述可挠曲反射基板的面积。本实用新型通过引入两侧表面分别设置离型层和可挠曲反射基板的各向同性透明薄膜,在保证可靠性的前提下,降低了评价产品光学膜的粘合层与光学评价装置之间的粘合力,实现了测试完成后评价产品易剥离的目的,从而保护评价产品和光学评价装置的表面不被破坏,有效地提高了光学评价装置的使用寿命和利用率,很大程度上降低了测试成本,而且所需材料便宜易得,实施方法简单,易于操作。
搜索关键词: 光学 评价 装置 系统
【主权项】:
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