[实用新型]低功耗沟槽式功率MOS器件有效

专利信息
申请号: 202120434005.0 申请日: 2021-02-26
公开(公告)号: CN214411210U 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 李振道;孙明光 申请(专利权)人: 江苏应能微电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 王健
地址: 213000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开一种低功耗沟槽式功率MOS器件,其轻掺杂P型阱层位于第一重掺杂N型源极区、第二重掺杂N型源极区之间的区域设置有一重掺杂P型区,所述重掺杂P型区上表面与轻掺杂P型阱层上表面齐平,且位于轻掺杂P型阱层下方,且重掺杂P型区下表面延伸至所述N型外延层内,所述重掺杂P型区中部的宽度大于其上部和下部的宽度;第一重掺杂N型源极区、第二重掺杂N型源极区与轻掺杂P型阱层的接触面均为弧形面,所述轻掺杂P型阱层与N型外延层的接触面为向下凸起的弧形面。本实用新型低功耗沟槽式功率MOS器件增加了MOS器件抗雪崩崩溃能力,避免了器件电流突然增大,从而提高了MOS器件的可靠性并降低了器件的切换损耗。
搜索关键词: 功耗 沟槽 功率 mos 器件
【主权项】:
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