[实用新型]一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机有效

专利信息
申请号: 202120051180.1 申请日: 2021-01-11
公开(公告)号: CN213842897U 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 刘照和;舒小平 申请(专利权)人: 嘉源昊泽半导体(苏州)有限公司
主分类号: G01N3/20 分类号: G01N3/20;G01N3/02;G01N3/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机,包括工作台,所述工作台上部焊接有后端支架和前端支架,所述后端支架和所述前端支架上滑动连接有升降横梁,所述工作台上设有第一滑动座,所述升降横梁下部设有第二滑动座,所述第二滑动座和所述第一滑动座内部连接有滑动块,所述滑动块之间连接剪力支架,所述第二滑动座上螺纹连接有Z轴调节螺杆,所述升降横梁上部设有移动座,所述移动座螺纹连接有X轴调节螺杆,所述移动座上安装有夹爪,所述后端支架的顶部设有定位轴杆,所述定位轴杆上连接有把手,所述把手的一端设有折弯杆。本实用新型通过剪力支架实现升降调节,并且能够实现对纳米基板本体进行稳定夹持。
搜索关键词: 一种 纳米 银基板 破坏性 实验 折弯 检验
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于嘉源昊泽半导体(苏州)有限公司,未经嘉源昊泽半导体(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202120051180.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top