[实用新型]一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机有效
申请号: | 202120051180.1 | 申请日: | 2021-01-11 |
公开(公告)号: | CN213842897U | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 刘照和;舒小平 | 申请(专利权)人: | 嘉源昊泽半导体(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01N3/20 | 分类号: | G01N3/20;G01N3/02;G01N3/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机,包括工作台,所述工作台上部焊接有后端支架和前端支架,所述后端支架和所述前端支架上滑动连接有升降横梁,所述工作台上设有第一滑动座,所述升降横梁下部设有第二滑动座,所述第二滑动座和所述第一滑动座内部连接有滑动块,所述滑动块之间连接剪力支架,所述第二滑动座上螺纹连接有Z轴调节螺杆,所述升降横梁上部设有移动座,所述移动座螺纹连接有X轴调节螺杆,所述移动座上安装有夹爪,所述后端支架的顶部设有定位轴杆,所述定位轴杆上连接有把手,所述把手的一端设有折弯杆。本实用新型通过剪力支架实现升降调节,并且能够实现对纳米基板本体进行稳定夹持。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 银基板 破坏性 实验 折弯 检验 | ||
【主权项】:
暂无信息
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