[实用新型]一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机

权利要求书

1.一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的上部焊接有后端支架（2）和前端支架（3），所述后端支架（2）和所述前端支架（3）上滑动连接有升降横梁（4），所述工作台（1）上固定设有第一滑动座（5），所述升降横梁（4）的下部固定设有第二滑动座（7），所述第二滑动座（7）和所述第一滑动座（5）的内部滑动连接有滑动块（8），上下两组所述滑动块（8）之间活动连接剪力支架（6），所述第二滑动座（7）上螺纹连接有Z轴调节螺杆（9），所述升降横梁（4）的上部滑动设有移动座（12），所述移动座（12）内螺纹连接有X轴调节螺杆（11），所述移动座（12）上固定安装有夹爪（13），所述后端支架（2）的顶部固定设有定位轴杆（14），所述定位轴杆（14）上活动连接有把手（15），所述把手（15）的一端活动设有折弯杆（16），所述折弯杆（16）上套接有轴套（17）。

2.根据权利要求1所述的一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，其特征在于：所述工作台（1）的底部四角处分别焊接有四组支撑杆（18），四组所述支撑杆（18）的底端分别固定连接有支撑座（19）。

3.根据权利要求1所述的一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，其特征在于：两组所述滑动块（8）的下部固定设有限位块（20），所述滑动块（8）的两侧固定分别设有连接块（22），上部所述滑动块（8）的上部固定设有连接头（21）。

4.根据权利要求3所述的一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，其特征在于：两侧所述连接块（22）分别通过活动销活动连接剪力支架（6），所述连接头（21）螺纹连接所述Z轴调节螺杆（9）。

5.根据权利要求3所述的一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，其特征在于：所述第一滑动座（5）和所述第二滑动座（7）的底部开设有限位槽（23），上下两组所述滑动块（8）下端的所述限位块（20）分别滑动处于所述限位槽（23）的内部。

6.根据权利要求1所述的一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，其特征在于：所述夹爪（13）之间夹持有纳米基板本体（24），所述纳米基板本体（24）活动处于所述定位轴杆（14）和所述折弯杆（16）之间。

7.根据权利要求1所述的一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，其特征在于：所述X轴调节螺杆（11）和所述Z轴调节螺杆（9）的一端分别固定连接有旋转手轮（10）。