[实用新型]一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机

说明书

本实用新型公开了一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，包括工作台，所述工作台上部焊接有后端支架和前端支架，所述后端支架和所述前端支架上滑动连接有升降横梁，所述工作台上设有第一滑动座，所述升降横梁下部设有第二滑动座，所述第二滑动座和所述第一滑动座内部连接有滑动块，所述滑动块之间连接剪力支架，所述第二滑动座上螺纹连接有Z轴调节螺杆，所述升降横梁上部设有移动座，所述移动座螺纹连接有X轴调节螺杆，所述移动座上安装有夹爪，所述后端支架的顶部设有定位轴杆，所述定位轴杆上连接有把手，所述把手的一端设有折弯杆。本实用新型通过剪力支架实现升降调节，并且能够实现对纳米基板本体进行稳定夹持。

技术领域

本实用新型涉及折弯检测机技术领域，具体为一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机。

背景技术

纳米银就是将粒径做到纳米级的金属银单质。纳米银粒径大多在25纳米左右，纳米银粒子由于其良好的导电性，使其在微电子领域占有极其重要的地位。纳米银粒子的表面效应、量子尺寸效应等，使其还具有一些特殊的用途，如表面增强拉曼应用、医学应用等，并且纳米银在用作在基板上的时候，在进行生产焊接纳米银基板的时候，需要对纳米银基板焊接处进行进行质量的检测。

但是，现有的纳米银基板在进行折弯检测的时候，普遍存在有以下问题，即是纳米银基本折弯检测装置在使用的时候，不能够实现对高度进行升降调节，使得纳米银基板在进行卡合连接的时候，不能够实现对基板进行居中的卡合连接，这样容易使得纳米银基板在折弯的时候不标准，以及不能够实现对纳米银基板进行稳定的夹持安装，容易在折弯的过程中发生脱落等问题，这样就急需要一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，具有能够稳定的夹持住纳米银基板，并且能够实现对折弯设备进行高度调节等优点，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种纳米银基板破坏性实验折弯检验机，包括工作台，所述工作台的上部焊接有后端支架和前端支架，所述后端支架和所述前端支架上滑动连接有升降横梁，所述工作台上固定设有第一滑动座，所述升降横梁的下部固定设有第二滑动座，所述第二滑动座和所述第一滑动座的内部滑动连接有滑动块，上下两组所述滑动块之间活动连接剪力支架，所述第二滑动座上螺纹连接有Z轴调节螺杆，所述升降横梁的上部滑动设有移动座，所述移动座内螺纹连接有X轴调节螺杆，所述移动座上固定安装有夹爪，所述后端支架的顶部固定设有定位轴杆，所述定位轴杆上活动连接有把手，所述把手的一端活动设有折弯杆，所述折弯杆上套接有轴套。

优选的，所述工作台的底部四角处分别焊接有四组支撑杆，四组所述支撑杆的底端分别固定连接有支撑座。

优选的，两组所述滑动块的下部固定设有限位块，所述滑动块的两侧固定分别设有连接块，上部所述滑动块的上部固定设有连接头。

优选的，两侧所述连接块分别通过活动销活动连接剪力支架，所述连接头螺纹连接所述Z轴调节螺杆。

优选的，所述第一滑动座和所述第二滑动座的底部开设有限位槽，上下两组所述滑动块下端的所述限位块分别滑动处于所述限位槽的内部。

优选的，所述夹爪之间夹持有纳米基板本体，所述纳米基板本体活动处于所述定位轴杆和所述折弯杆之间。

优选的，所述X轴调节螺杆和所述Z轴调节螺杆的一端分别固定连接有旋转手轮。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过剪力支架实现对折弯设备进行升降调节，且剪力支架通过调节螺杆实现剪力夹角的大小进行调节，进而实现对剪力支架的高度进行调节，使得纳米基板在进行折弯的时候，能够使得折弯点在中间；