[发明专利]电子器件软错误率评估方法、装置和计算机设备在审
| 申请号： | 202111666433.7 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114329993A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;黄云;雷志锋;彭超;何玉娟;肖庆中;路国光;来萍 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/02 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 聂榕 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种电子器件软错误率评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取电子器件的封装材料释放的粒子的通量‑能量谱；对所述电子器件进行反向分析，确定电子器件的有源区至所述封装材料之间的介质属性信息；根据通量‑能量谱以及介质属性信息，确定电子器件在有源区的粒子通量‑有效线性能量转移值谱；获取对电子器件进行辐照试验获得的电子器件的单粒子效应截面值‑有效线性能量转移值谱；对粒子通量‑有效线性能量转移值谱和单粒子效应截面值‑有效线性能量转移值谱进行运算，确定电子器件的软错误率。采用本方法能够提高电子器件软错误率的评估精度。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 错误率 评估 方法 装置 计算机 设备 | ||
【主权项】：
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