[发明专利]一种快速定位芯片验证中bug的方法在审
| 申请号： | 202111652085.8 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114330223A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 赵守磊;梁孔丽 | 申请（专利权）人： | 上海宇思微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 赵丹 |
| 地址： | 200120 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种快速定位芯片验证中bug的方法，涉及芯片验证技术领域。该快速定位芯片验证中bug的方法，S1、构建节点监测组件：根据设计内部数据包格式编写数据采集逻辑，节点监测组件的具体形式根据验证平台所采用的验证方法学统一编写，该组件只用编写一次；S2、DPI‑C接口函数：将节点监测组件编写的数据采集通过DPI‑C接口形式，将算法封装成一个接口函数送到验证平台里，以把算法编译成执行文件，平台编译的时候把库文件装载进去。通过在设计和参考模型中增加中间比对节点，把整个设计进行分段比对，化整为零，从而帮助设计人员快速准确的确定缺陷的位置，极大地提高了验证效率，加快验证收敛速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 定位 芯片 验证 bug 方法 | ||
【主权项】：
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