[发明专利]一种快速定位芯片验证中bug的方法

说明书

本发明提供一种快速定位芯片验证中bug的方法，涉及芯片验证技术领域。该快速定位芯片验证中bug的方法，S1、构建节点监测组件：根据设计内部数据包格式编写数据采集逻辑，节点监测组件的具体形式根据验证平台所采用的验证方法学统一编写，该组件只用编写一次；S2、DPI‑C接口函数：将节点监测组件编写的数据采集通过DPI‑C接口形式，将算法封装成一个接口函数送到验证平台里，以把算法编译成执行文件，平台编译的时候把库文件装载进去。通过在设计和参考模型中增加中间比对节点，把整个设计进行分段比对，化整为零，从而帮助设计人员快速准确的确定缺陷的位置，极大地提高了验证效率，加快验证收敛速度。

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，具体为一种快速定位芯片验证中bug的方法。

背景技术

通常情况下，芯片设计根据芯片规格进行开发，芯片验证根据芯片规格对设计进行检测。而随着科技的进步，芯片的规模越来越大，芯片设计的复杂度越来越高，验证的任务也就越来越多，越来越复杂；同时市场窗口期相对缩短，项目任务重，芯片人才紧缺，设计和验证人员的经验参差不齐。那么在这么多不确定因素的影响下，如何快速准确的定位缺陷bug就显得尤为关键。

目前提高验证效率的方法，往往是从验证流程上进行的，比如制定详细的验证计划、搭建统一的验证平台，以及基于覆盖率驱动的验证思路等，以上这些都是从大的层面提高验证效率，保证验证的完备性。但是，具体到定位问题这个细节时，如果验证人员对设计细节比较了解，基本上能找出问题在哪；如果验证人员对设计细节不了解，那往往是把问题直接丢给设计人员。不管是哪种方式，这样的定位方法，完全取决于验证和设计人员的经验和能力，自动化程度低，依赖大量的log和波形文件，随着bug的层次不同，定位的速度也不同，有时甚至需要验证人员和设计人员逐个时钟周期的比对数据，而要找出这些设计中的缺陷，往往需要大量的人力和时间。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种快速定位芯片验证中bug的方法，解决了定位芯片验证中的bug与验证平台搭建的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种快速定位芯片验证中bug的方法，包括以下步骤：

S1、构建节点监测组件：

根据设计内部数据包格式编写数据采集逻辑，节点监测组件的具体形式根据验证平台所采用的验证方法学统一编写，该组件只用编写一次；

S2、DPI-C接口函数：

将节点监测组件编写的数据采集通过DPI-C接口形式，将算法封装成一个接口函数送到验证平台里，以把算法编译成执行文件，平台编译的时候把库文件装载进去；

S3、确定节点数量及位置：

设计DUT和验证平台计分板之间，增加节点监测组件，根据芯片模块的复杂度确定节点数量、位置及其他配套参数；

S4、例化监测组件：

例化监测组件到验证平台，同时把例化监测组件与构件节点监测组件的接口对接到设计中的具体信号上；

S5、参考模型中增加节点采集代码与调用DPI-C：

参考模型中增加各节点采集代码，同时利用计分板里增加算法中间节点调试接口DPI-C，传入节点参数给参考模型；

S6、启动仿真以及采集节点数据比对：

启动仿真，按照具体的比对粒度，控制算法内部节点数据的采集，两边数据采集好后，在比对最终输出之前，先比对中间节点的正确性，缩小缺陷的搜索范围。