[发明专利]集成电路测试设备在审
| 申请号： | 202111577205.2 | 申请日： | 2021-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN115327339A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 苏建华;曾昱玮;徐上茹 | 申请（专利权）人： | 南亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 康艳青;王琳 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种集成电路测试设备用以测试待测集成电路装置。集成电路测试设备包含电源供应器以及电源补偿电路。电源供应器用以通过并联连接的第一路径或第二路径向待测集成电路装置的电源端子供电，其中第一路径包括第一开关元件，第一开关元件用以根据第一控制信号进行控制。电源补偿电路位于第二路径，电源补偿电路包括第二开关元件，第二开关元件用以根据第二控制信号进行控制，电源补偿电路用以在第一开关元件断路且第二开关元件导通时产生补偿脉冲电流。借此，测试装置可灵活选择电源供应器源，满足各种测试的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 设备 | ||
【主权项】：
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