[发明专利]集成电路测试设备

说明书

一种集成电路测试设备用以测试待测集成电路装置。集成电路测试设备包含电源供应器以及电源补偿电路。电源供应器用以通过并联连接的第一路径或第二路径向待测集成电路装置的电源端子供电，其中第一路径包括第一开关元件，第一开关元件用以根据第一控制信号进行控制。电源补偿电路位于第二路径，电源补偿电路包括第二开关元件，第二开关元件用以根据第二控制信号进行控制，电源补偿电路用以在第一开关元件断路且第二开关元件导通时产生补偿脉冲电流。借此，测试装置可灵活选择电源供应器源，满足各种测试的要求。

技术领域

本发明是关于一种测试设备，尤其关于一种集成电路测试设备。

背景技术

随着当今移动电子设备和计算器服务器不断增加处理的数据量，半导体存储器制造商需要一种功能强大、经济高效的方法来测试他们最新一代的高速、高容量存储器集成电路，包括新兴的DDR4-SDRAM和LPDDR4-SDRAM芯片。

被配置向这样的待测集成电路装置供电的电源电路例如具有采用调节器的配置。理想情况下，这种电源电路能够提供恒定的电力，而不管负载电流如何。然而，这样的电源电路具有不可忽略的输出阻抗。因此，电源电压因负载变动而波动。电源电压的波动会影响待测集成电路装置的测试裕度。

发明内容

本发明提出一种创新的集成电路测试设备，解决先前技术的问题。

于本发明的一些实施例中，一种集成电路测试设备用以测试待测集成电路装置。集成电路测试设备包含电源供应器以及电源补偿电路。电源供应器用以通过并联连接的第一路径或第二路径向待测集成电路装置的电源端子供电，其中第一路径包括第一开关元件，第一开关元件用以根据第一控制信号进行控制。电源补偿电路位于第二路径，电源补偿电路包括第二开关元件，第二开关元件用以根据第二控制信号进行控制，电源补偿电路用以在第一开关元件断路且第二开关元件导通时产生补偿脉冲电流。

于本发明的一些实施例中，电源供应器用以在第一开关元件导通且第二开关元件断路时通过第一路径向待测集成电路装置的电源端子供电。

于本发明的一些实施例中，集成电路测试设备还包含分配给第二开关元件的驱动器。

于本发明的一些实施例中，待测集成电路装置包含在组装工序后封装的集成电路装置。

于本发明的一些实施例中，待测集成电路装置包含在组装工序后封装的存储器集成电路装置。

于本发明的一些实施例中，存储器集成电路装置包含双倍数据率同步动态随机存取存储器。

于本发明的一些实施例中，存储器集成电路装置包含低功率双倍数据率同步动态随机存取存储器。

于本发明的一些实施例中，电源供应器配置为由软件应用程序调制以在电源补偿电路发生故障时补偿电源电压降。

于本发明的一些实施例中，一种集成电路测试设备用以测试待测集成电路装置。集成电路测试设备包含第一电源供应器、第二电源供应器以及电源补偿电路。第一电源供应器用以通过第一路径向待测集成电路装置的电源端子供电。第二电源供应器用以通过第二路径向待测集成电路装置的电源端子供电。电源补偿电路位于第二路径，电源补偿电路包括开关元件，开关元件用以根据控制信号进行控制，电源补偿电路用以在开关元件导通时且第二电源供应器运作供电时产生补偿脉冲电流。

于本发明的一些实施例中，第一电源供应器用以在开关元件断路时通过第一路径向待测集成电路装置的电源端子供电。

于本发明的一些实施例中，第一电源供应器用以在第二电源供应器不运作供电时通过第一路径向待测集成电路装置的电源端子供电。

于本发明的一些实施例中，集成电路测试设备还包含分配给第二开关元件的驱动器。

于本发明的一些实施例中，待测集成电路装置包含在组装工序后封装的集成电路装置。