[发明专利]材料表面微粒检测分析仪及其检测分析方法在审
| 申请号： | 202111577180.6 | 申请日： | 2021-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN115290515A | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 夏平;王根松 | 申请（专利权）人： | 威夏电子科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 杭州兴知捷专利代理事务所(特殊普通合伙) 33338 | 代理人： | 周文停 |
| 地址： | 311215 浙江省杭州市萧山区经*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种材料表面微粒检测分析仪及其检测分析方法，包括外壳、触摸屏、打印机、采样下盖、采样上盖、电路板、存储盘、开关电源、激光传感器和传感器风扇，采样上盖和采样下盖之间形成采样室，采样室通过第一气管连接一真空泵，激光传感器通过第二气管连接采样室，采样上盖通过一丝杆传动机构驱动升降来实现与采样下盖之间的开合，该检测分析仪内部还设有一内含校准微粒的落料器，落料器的进气端连接真空泵，落料器的出气端连接激光传感器，真空泵的进气端连接一过滤器。本发明采用丝杆传动机构驱动采用上盖升降来实现与采样下盖之间的开合，可防止待检测材料表面的微粒被振飞或者掉落，采用双气路结构，可进行检测标定，确保其检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 表面 微粒 检测 分析 及其 方法 | ||
【主权项】：
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