[发明专利]材料表面微粒检测分析仪及其检测分析方法

说明书

本发明公开了一种材料表面微粒检测分析仪及其检测分析方法，包括外壳、触摸屏、打印机、采样下盖、采样上盖、电路板、存储盘、开关电源、激光传感器和传感器风扇，采样上盖和采样下盖之间形成采样室，采样室通过第一气管连接一真空泵，激光传感器通过第二气管连接采样室，采样上盖通过一丝杆传动机构驱动升降来实现与采样下盖之间的开合，该检测分析仪内部还设有一内含校准微粒的落料器，落料器的进气端连接真空泵，落料器的出气端连接激光传感器，真空泵的进气端连接一过滤器。本发明采用丝杆传动机构驱动采用上盖升降来实现与采样下盖之间的开合，可防止待检测材料表面的微粒被振飞或者掉落，采用双气路结构，可进行检测标定，确保其检测精度。

技术领域

本发明属于包装材料表面微粒检测技术领域，尤其涉及一种材料表面微粒检测分析仪及其检测分析方法。

背景技术

一些对环保要求特别高的产品，会对其包装材料表面微粒进行检测；目前，对包装材料表面微粒的检测通常会收到外界环境中微粒的影响，导致其检测精度得不到保障；

因此，一些厂家设计出来监测分析仪，可以将待检测材料放入密封环境内进行检测，可以减少外界环境对检测精度的影响；但是，目前，市场面上的监测分析仪，采样上盖和采样下盖之间的开合通过采用人工辅助开合，将待检测材料放在采样下盖上，手动扳动采样上盖，使得采样上盖合在采样下盖上形成封闭的采样室，该种结构为了提高采样上盖和采样下盖之间的密封效果，采样上盖上通过会设计一定的下压弹力，而当人工将采样上盖盖到采样下盖上去的时候会与采样下盖之间产生刚性碰撞，导致采样上盖上的待检测材料发生一定的振动，导致待检测材料表面上的微粒可能会一定程度的被振飞甚至掉落，从而影响检测分析的精度；

而且，常规的检测分析仪通常是单气路结构，不具备校准标定功能，因此无法进行检测校准。

发明内容

本发明为了解决上述现有技术中存在的缺陷和不足，提供了一种采用丝杆传动机构驱动采用上盖升降来实现与采样下盖之间的开合，使得采样上盖盖到采样下盖上时，非常平稳，防止待检测材料表面的微粒被振飞或者掉落，提高其检测精度；同时设计了一个校准气路，使得其可以进行检测标定，确保其检测精度的材料表面微粒检测分析仪及其检测分析方法。

本发明的技术方案：一种材料表面微粒检测分析仪，包括外壳、设置在外壳上的触摸屏、打印机、采样下盖和采样上盖以及设置在外壳内的电路板、存储盘、开关电源、激光传感器和传感器风扇，所述采样上盖和采样下盖之间形成采样室，所述采样室通过第一气管连接一真空泵，所述电路板分别与开关电源、激光传感器、传感器风扇和真空泵连接，所述激光传感器通过第二气管连接采样室，所述采样上盖通过一丝杆传动机构驱动升降来实现与采样下盖之间的开合，该检测分析仪内部还设有一内含校准微粒的落料器，所述落料器的进气端连接真空泵，落料器的出气端连接激光传感器，真空泵的进气端连接一过滤器。

本发明采用丝杆传动机构驱动采用上盖升降来实现与采样下盖之间的开合，使得采样上盖盖到采样下盖上时，非常平稳，防止待检测材料表面的微粒被振飞或者掉落，提高其检测精度；同时设计了一个校准气路配合检测气路，实现双气路结构，使得其可以进行检测标定，确保其检测精度。

优选地，所述丝杆传动机构包括支撑底座、安装在支撑底座上的竖直滑轨、安装在支撑底座内的步进电机、连接在步进电机上的丝杆和升降连接在丝杆上的滑块，所述采样上盖通过一竖直连杆连接在滑块上，所述第一气管和第二气管均通过气管接头连接在采样上盖上。

该种结构确保丝杆传动机构驱动采样上盖的升降平稳可靠，进一步确保采样上盖的开合平稳性。

优选地，所述竖直滑轨的下部设有配合丝杆的丝杆下支撑，所述丝杆下支撑的一侧设有下限位开关，所述竖直滑轨的顶部设有配合丝杆的丝杆上支撑，所述丝杆上支撑的一侧设有上限位开关。

该种结构进一步确保采样上盖的升降平稳性和可靠性。