[发明专利]材料表面微粒检测分析仪及其检测分析方法在审

专利信息
申请号: 202111577180.6 申请日: 2021-12-22
公开(公告)号: CN115290515A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 夏平;王根松 申请(专利权)人: 威夏电子科技(杭州)有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 杭州兴知捷专利代理事务所(特殊普通合伙) 33338 代理人: 周文停
地址: 311215 浙江省杭州市萧山区经*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 材料 表面 微粒 检测 分析 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种材料表面微粒检测分析仪,其特征在于:其包括外壳、设置在外壳上的触摸屏、打印机、采样下盖和采样上盖以及设置在外壳内的电路板、存储盘、开关电源、激光传感器和传感器风扇,所述采样上盖和采样下盖之间形成采样室,所述采样室通过第一气管连接一真空泵,所述电路板分别与开关电源、激光传感器、传感器风扇和真空泵连接,所述激光传感器通过第二气管连接采样室,所述采样上盖通过一丝杆传动机构驱动升降来实现与采样下盖之间的开合,该检测分析仪内部还设有一内含校准微粒的落料器,所述落料器的进气端连接真空泵,落料器的出气端连接激光传感器,真空泵的进气端连接一过滤器。

2.根据权利要求1所述的一种材料表面微粒检测分析仪,其特征在于:所述丝杆传动机构包括支撑底座、安装在支撑底座上的竖直滑轨、安装在支撑底座内的步进电机、连接在步进电机上的丝杆和升降连接在丝杆上的滑块,所述采样上盖通过一竖直连杆连接在滑块上,所述第一气管和第二气管均通过气管接头连接在采样上盖上。

3.根据权利要求2所述的一种材料表面微粒检测分析仪,其特征在于:所述竖直滑轨的下部设有配合丝杆的丝杆下支撑,所述丝杆下支撑的一侧设有下限位开关,所述竖直滑轨的顶部设有配合丝杆的丝杆上支撑,所述丝杆上支撑的一侧设有上限位开关。

4.根据权利要求2所述的一种材料表面微粒检测分析仪,其特征在于:所述丝杆的下端通过一联轴器连接步进电机的电机轴,所述竖直连杆的下部通过一连杆固定板固定在滑块上,所述采样上盖的背面设有配合竖直连杆的连杆安装槽,所述竖直连杆的上端插入连杆安装槽内通过锁紧螺栓固定。

5.根据权利要求2所述的一种材料表面微粒检测分析仪,其特征在于:所述外壳包括底板和上罩,所述上罩的一侧设有斜面,所述触摸屏安装在斜面上,所述采样下盖安装在上罩的另一侧,所述斜面的上侧设有上平面,斜面的下侧设有下平面,所述打印机安装在上平面上,所述激光传感器的位置与下平面的位置相对应。

6.根据权利要求5所述的一种材料表面微粒检测分析仪,其特征在于:所述支撑底座固定在底板上,且支撑底座上连接有底座连板,所述激光传感器和传感器风扇固定在底座连板上,所述采样下盖通过一支撑立柱固定在底座连板上,所述传感器风扇固定在支撑立柱的底部一侧。

7.根据权利要求5所述的一种材料表面微粒检测分析仪,其特征在于:所述开关电源和电路板安装在上罩的背面内侧,所述上罩的背面外侧设有配合开关电源的开关按钮和电源插头以及配合电路板的两个调节旋钮。

8.根据权利要求7所述的一种材料表面微粒检测分析仪,其特征在于:所述底板的后侧设有检修板,所述检修板的宽度与上平面的宽度相匹配,所述底板的底部设有四个底脚。

9.一种如权利要求1所述的材料表面微粒检测分析仪的检测分析方法,其特征在于:其步骤如下:

采样上盖打开状态下,将待检材料放在采样下盖上,丝杆传动机构驱动采样上盖下压与采样下盖合起来形成采样室;

由真空泵泵入的干净空气将采样室内材料表面的颗粒物吹起,吹起的颗粒物随气流先储存在第二气管内;

传感器风扇抽取储存在第二气管内的颗粒物经过激光传感器,被激光传感器探测;

激光传感器探测到的信号被信号采样分析电路分析,识别出颗粒物的个数及大小;

控制电路读取分析结果,打印报告、保存检测数据到存储盘备档、或上传到PC机保存备档。

10.根据权利要求9所述的材料表面微粒检测分析仪的检测分析方法,其特征在于:所述步骤4)中的信号采样分析电路和步骤5)中的控制电路均集成在电路板上,操作者通过触摸屏设置系统参数及控制校准、检测的启动停止。

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