[发明专利]CMOS图像传感器电参数测试方法及测试装置在审
| 申请号： | 202111574232.4 | 申请日： | 2021-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN114513652A | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 张晓羽 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N5/374 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 朱智勇 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开一个或多个实施例提供一种CMOS图像传感器电参数测试方法及测试装置，其中，测试方法包括：将所述图像传感器与测试平台连接；通过所述测试平台上定义所述图像传感器的管脚参数、电平参数以及时序参数，并为所述参数赋值；建立串行模式的第一测试向量和待机模式的第二测试向量；建立测试流程，根据所述第一测试向量和所述第二测试向量对所述图像传感器的电参数进行测试。根据编写的测试向量可以给被测管脚施加合适的电平、电源电压以及负载电流，有效实现对CMOS图像传感器的测试，并且此测试方法通用性强，适于实用，填补了对此类器件电参数测试上的空白，提高了测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | cmos 图像传感器 参数 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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