[发明专利]自蚀刻铜面键合剂及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202111561232.0 申请日: 2021-12-20
公开(公告)号: CN114231982B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 王立中;陈修宁;李晨庆;黄志齐;王淑萍;黄京华 申请(专利权)人: 昆山市板明电子科技有限公司
主分类号: C23F1/02 分类号: C23F1/02;C23F1/18;H05K3/38;H05K3/06
代理公司: 江苏海联海律师事务所 32531 代理人: 倪章勇
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种自蚀刻铜面键合剂及其制备方法,属于印制线路板生产用化学品技术领域。该键合剂包括氧化剂、含氮杂环共聚物、含羟基溶剂、有机酸和余量去离子水,其中氧化剂为二价铜盐、三价铁盐、过氧化物和过硫酸盐中至少一种,含氮杂环共聚物为由含氮杂环类单体、烷基丙烯酸酯类单体和亲水性单体按质量比为(20~90):(5~50):(5~15)经自由基共聚制备所得聚合物,含羟基溶剂为醇类化合物和醇醚类化合物中至少一种,有机酸为有机羧酸。该键合剂将化学微蚀与化学键合二种技术结合,能有效提高铜表面与不同光致抗蚀剂间粘附力并保持稳定,对铜表面形貌改变小,同时又能满足细线路加工与高频率信号传输对铜表面形貌的要求。
搜索关键词: 蚀刻 铜面键 合剂 及其 制备 方法
【主权项】:
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