[发明专利]一种平面反射镜阵列的校准系统及方法有效

专利信息
申请号: 202111543500.6 申请日: 2021-12-16
公开(公告)号: CN114236743B 公开(公告)日: 2023-09-29
发明(设计)人: 张震坤;王静;范小礼;白翔;徐小琴;周健;王俊;邓蓉;姚石磊 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所;中国人民解放军63921部队
主分类号: G02B7/182 分类号: G02B7/182;G02B7/198
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 王文雅
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及平面反射镜阵列技术领域,特别涉及一种平面反射镜阵列的校准系统及方法。该系统包括:校准组件、微调组件、控制装置、水平仪和方位仪;校准组件与控制装置电连接,校准组件和待校准的平面反射镜阵列连接,平面反射镜阵列包括镜框和与镜框连接的多块平面反射镜,校准组件用于对平面反射镜阵列中的目标平面反射镜进行水平调整;微调组件用于对除目标平面反射镜外的每块平面反射镜的水平度进行微调;水平仪用于对所有平面反射镜的水平度进行测量;方位仪用于对处于竖直状态的所有平面反射镜的方位角进行校准。本发明提供了一种平面反射镜阵列的校准系统及方法,具有校准成本低,校准速度快的优异效果。
搜索关键词: 一种 平面 反射 阵列 校准 系统 方法
【主权项】:
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