[发明专利]一种基于差分式处理法测量漏率的方法及装置在审
| 申请号： | 202111537341.9 | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN114199475A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 杨春节;张海锭;万宇鹏;赵亮;尹永钊;冯锦;陈宇航;王晓龙;姚小兵 | 申请（专利权）人： | 中国测试技术研究院声学研究所 |
| 主分类号： | G01M3/26 | 分类号： | G01M3/26 |
| 代理公司： | 成都宏田知识产权代理事务所(普通合伙) 51337 | 代理人： | 杨伟 |
| 地址： | 610021*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明涉及漏率测量技术领域，提供了一种基于差分式处理法测量漏率的方法及装置，所述方法通过将被测漏孔件与差分式漏率测量装置连接形成一密闭空间，将预定差压范围划分为若干项数的等差数列，调节活塞装置使差压计示值依次分别处于该等差数列的每一项差压值，同时测量每一项差压值下密闭空间的总漏率得到数列Q |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 分式 处理 测量 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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