[发明专利]一种固体材料中氚含量的测量方法在审
| 申请号： | 202111534622.9 | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN114371496A | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 肖丹;陈思泽;梅华平;韩运成;章勇;张思纬;张早娣;李桃生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/185 | 分类号： | G01T1/185;G01T1/36 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 叶濛濛 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种固体材料中氚含量的测量方法，包括，S1：将被测对象置于平行电极板之间，改变电极板两端的电压参数，获取多组能谱数据；S2：计算在不同电场强度下，β射线诱发的X射线能谱数据；S3：建立多能谱组合反演模型，构建总射线能谱与不同深度的射线能谱在电场下的函数关系，基于不同电场强度下的反演模型，求解氚在不同深度的分布情况。本发明的优点在于：通过加高压的手段对测量谱进行增强，避免在测量过程中产生较大的误差，为后续的数据反演提供了保障，提高了反演计算的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固体 材料 含量 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院，未经中国科学院合肥物质科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111534622.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种有限元建模方法及计算机存储介质
- 下一篇：一种网络交互的控制方法及装置
