[发明专利]一种固体材料中氚含量的测量方法在审
| 申请号： | 202111534622.9 | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN114371496A | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 肖丹;陈思泽;梅华平;韩运成;章勇;张思纬;张早娣;李桃生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/185 | 分类号： | G01T1/185;G01T1/36 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 叶濛濛 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 固体 材料 含量 测量方法 | ||
1.一种固体材料中氚含量的测量方法，其特征在于：包括，
S1：将被测对象置于平行电极板之间，改变电极板两端的电压参数，获取多组能谱数据；
S2：计算在不同电场强度下，β射线诱发的X射线能谱数据；
S3：建立多能谱组合反演模型，构建总射线能谱与不同深度的射线能谱在电场下的函数关系，基于不同电场强度下的反演模型，求解氚在不同深度的分布情况。
2.根据权利要求1所述的一种固体材料中氚含量的测量方法，其特征在于：所述平行电极板选用β射线阻挡层材料制作。
3.根据权利要求1所述的一种固体材料中氚含量的测量方法，其特征在于：所述多能谱数据包括通过电离室探测器和半导体探测器获取的被测对象两侧的β射线和X射线能谱。
4.根据权利要求1所述的一种固体材料中氚含量的测量方法，其特征在于：所述使用蒙特卡罗模型计算不同电场强度下的能谱数据，获取所述的β射线诱发的X射线能谱数据。
5.根据权利要求1所述的一种固定体材料氚含量的测量方法，其特征在于：所述建立多能谱反演模型的方法为，
将被测对象分为n层，使用m种不同电场作进行能谱数据测量，总X射线能谱S(Ej)表示为，
其中，fi(Ej)表示在第j中电场的作用下仅第i层含有氚元素时的X射线能谱，ai表示第i层的氚含量；
在不同电场强度下测量得到S(Ej)，构建反演方程组，
求解方程组计算得到每一层中的氚含量ai。
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