[发明专利]一种多体制复合雷达高精度联合测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202111531107.5 申请日: 2021-12-14
公开(公告)号: CN114200417A 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 江利中;杨明远;高林星;谭姗姗;顾泽凌;邹波 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01S7/497;H04N17/00
代理公司: 上海元好知识产权代理有限公司 31323 代理人: 林杨;徐雯琼
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种多体制复合雷达高精度联合测试系统,包括:多体制目标模拟装置,产生并向发射方向发射模拟目标信号;五维转台,承载多体制复合雷达,并可以调整多体制复合雷达的位置、角度。本发明还提供一种多体制复合雷达高精度联合测试方法,包含步骤:S1、搭建测试环境;S2、粗对准;S3、精对准;S4、高精度对准;S5、实施高精度联合测试。本发明可以提供可见光、激光和微波模拟目标信号,能够同时为光学相机、激光雷达和微波雷达测试使用,实现对多体制复合雷达的高精度联合测试,具有试验效率高、测试过程简单、试验精度高等优点,并具有较强的普适性和实用性。
搜索关键词: 一种 体制 复合 雷达 高精度 联合 测试 系统 方法
【主权项】:
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