[发明专利]一种多体制复合雷达高精度联合测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202111531107.5 申请日: 2021-12-14
公开(公告)号: CN114200417A 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 江利中;杨明远;高林星;谭姗姗;顾泽凌;邹波 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01S7/497;H04N17/00
代理公司: 上海元好知识产权代理有限公司 31323 代理人: 林杨;徐雯琼
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 体制 复合 雷达 高精度 联合 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种多体制复合雷达高精度联合测试系统,用于在设置有二维扫描架的微波暗室中对多体制复合雷达实施高精度联合测试,其特征在于,包括:

多体制目标模拟装置,设置在所述二维扫描架上,产生并向发射方向发射模拟目标信号;

五维转台,设置在所述微波暗室地面上,并位于所述多体制目标模拟装置的发射方向的正前方,承载所述多体制复合雷达,并可以调整所述多体制复合雷达的位置和/或角度,使其与所述多体制目标模拟装置对准。

2.如权利要求1所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统,其特征在于,所述模拟目标信号包括可见光模拟目标信号、激光模拟目标信号和微波模拟目标信号。

3.如权利要求2所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统,其特征在于,所述多体制目标模拟装置包括:

平行光管,设置有前端部和后端部;所述发射方向为自所述后端部向前端部的方向;

集成光源,设置在所述平行光管的后端部,可以向所述平行光管的前端部发射准直前可见光和准直前激光;

准直透镜,设置在所述平行光管的前端部,与所述集成光源耦合,包括准直入射端和准直出射端,用于对自所述准直入射端入射的所述准直前可见光和准直前激光进行准直,并形成所述可见光模拟目标信号和激光模拟目标信号自所述准直出射端向发射方向出射;

微波喇叭,设置在所述平行光管的前端部,用于产生并向所述发射方向发射微波模拟目标信号。

4.如权利要求3所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统,其特征在于,所述集成光源包括:

可见光光源单元,固定在所述集成光源内部,可以发射所述准直前可见光束,用于提供可见光光源;

激光光源单元,设置在所述集成光源内部,可以发射所述准直前激光束,用于提供激光光源。

5.如权利要求4所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统,其特征在于,所述激光光源单元包括:

激光发生器,可以发射第一激光束;

激光耦合光纤,设置有光纤输入端和光纤输出端,所述光纤输入端与激光发生器耦合,所述光纤输出端与准直透镜耦合,可以将自所述光纤输入端入射的所述第一激光束形成准直前激光束传输至所述光纤输出端出射,用于改善所述第一激光束的能量分布状态和出光质量。

6.如权利要求5所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统,其特征在于,所述集成光源还包括:

激光能量控制器,与所述激光发生器电连接,可以调整所述激光发生器的发射功率。

7.如权利要求3所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统,其特征在于,所述微波喇叭包括:

波导转换口,设置在所述微波喇叭朝向所述发射方向的端部,用于降低所述微波模拟目标信号的传输损耗;

喇叭天线,设置在所述波导转换口朝向所述发射方向的端部,用于实现所述微波模拟目标信号的定向辐射;所述喇叭天线的口径小于所述平行光管前端部的口径,并且满足增益要求。

8.如权利要求1所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统,其特征在于,所述五维转台包括:

承载盘,为用于顶部承载所述多体制复合雷达的部件;

水平纵向平移轴组,设置在所述承载盘底部,为可以实现所述多体制复合雷达沿水平纵向的高精度直线位移的装置;

水平横向平移轴组,设置在所述水平纵向平移轴组底部,为可以实现所述多体制复合雷达沿水平横向的高精度直线位移的装置;

垂直向升降轴组,设置在所述水平横向平移轴组底部,为可以实现所述多体制复合雷达沿垂直向高精度位移的装置。

9.如权利要求8所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统,其特征在于,所述五维转台还包括:

俯仰向转轴组,设置在所述垂直向升降轴组下方且与所述垂直向升降轴组连接,为可以实现所述多体制复合雷达高精度俯仰角度调整的装置;水平向转轴组,设置在所述俯仰向转轴组底部和地面之间,为可以实现所述多体制复合雷达高精度水平向方位角度调整的装置。

10.一种多体制复合雷达高精度联合测试方法,其特征在于,利用如权利要求1~9任意一项所述的多体制复合雷达高精度联合测试系统实施,包含步骤:

S1、搭建测试环境;

在设置有所述多体制复合雷达高精度联合测试系统和二维扫描架的微波暗室中,将所述多体制目标模拟装置安装在二维扫描架上,所述多体制复合雷达安装在五维转台上,调整所述五维转台,使所述多体制目标模拟装置的发射方向与所述多体制复合雷达大致对准;

S2、粗对准;

通过所述多体制目标模拟装置向发射方向发射所述可见光模拟目标信号,利用所述多体制复合雷达测量所述可见光模拟目标信号的发射位置,调整所述五维转台定位所述多体制目标模拟装置的可见光零位;

S3、精对准;

通过所述多体制目标模拟装置向发射方向发射所述微波模拟目标信号,利用所述多体制复合雷达测量微波模拟目标信号的发射位置,调整所述五维转台定位所述多体制目标模拟装置的微波零位;

S4、高精度对准;

通过所述多体制目标模拟装置向发射方向发射所述激光模拟目标信号,利用所述多体制复合雷达测量激光模拟目标信号的发射位置,调整所述五维转台定位所述多体制目标模拟装置的激光零位;

S5、实施高精度联合测试;

通过所述多体制目标模拟装置同时向发射方向发射所述可见光模拟目标信号、激光模拟目标信号和微波模拟目标信号,实施多体制复合雷达高精度联合测试。

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