[发明专利]一种多体制复合雷达高精度联合测试系统及测试方法

说明书

本发明提供一种多体制复合雷达高精度联合测试系统，包括：多体制目标模拟装置，产生并向发射方向发射模拟目标信号；五维转台，承载多体制复合雷达，并可以调整多体制复合雷达的位置、角度。本发明还提供一种多体制复合雷达高精度联合测试方法，包含步骤：S1、搭建测试环境；S2、粗对准；S3、精对准；S4、高精度对准；S5、实施高精度联合测试。本发明可以提供可见光、激光和微波模拟目标信号，能够同时为光学相机、激光雷达和微波雷达测试使用，实现对多体制复合雷达的高精度联合测试，具有试验效率高、测试过程简单、试验精度高等优点，并具有较强的普适性和实用性。

技术领域

本发明涉及航天领域，尤其涉及微波、激光、可见光多体制复合雷达高精度联合测试领域，可应用于复合体制雷达测试标定领域。

背景技术

目前，单一探测手段如可见光、微波和激光都有其不足之处。可见光相机技术比较成熟，可以高清成像，但无法在光线直射条件下工作、且不能获得目标的距离与速度信息；微波雷达具备对目标快速搜捕、高精度测距以及全天时工作的能力，但单独使用测角精度较差；激光雷达可以实现对目标的高精度测角和测距功能，且具备全天时探测能力，但其由于束散角小，快速搜索和大动态跟踪能力不足。根据上述几种探测体制的特点，可见光、微波和激光多体制复合雷达，既具备全天时目标快速搜捕和大动态跟踪能力又兼具高精度测角和测距功能。因此，多体制复合雷达尤其适用于天基、空基等平台，在重量资源有较强约束条件下的快速探测和高精度测量应用需求。

近年来，多体制复合雷达得到了较高的重视和快速的发展，为了更好的实际工程应用，多体制复合雷达联合测试和标定技术需要更多的关注和进一步的研究。专利《复合功能雷达装置》(专利申请号：CN 201080008679.9，专利公开号：CN102334043A)提供了复合功能雷达装置及测试方法，能够高精度地同时测定距目标物体的距离和目标物体的温度，关注的是一种功能复合雷达，而本专利重点是可见光、微波和激光体制复合雷达的测试方法。专利《复合制导系统初始姿态现场校准系统及方法》(专利申请号：CN 201410200305.7，专利公开号：CN104880200A)提供一种复合制导系统初始姿态现场校准系统及方法，可以快速、便捷、准确地完成制导系统中捷联惯组与星敏感器之间初始姿态三维角度差的同步现场校准，与本发明的高精度联合测试方法不同。专利《一种多体制雷达信号模拟器》(专利申请号：CN 201510882404.2，专利公开号：CN105527615 A)提供一种大功率多体制雷达信号模拟器，用以解决现有技术中雷达信号模拟器频带窄以及辐射距离近的问题与本发明的多体制目标模拟装置并不相同。专利《一种复合导引头整机装配标校装置》(专利申请号：CN201410602862.1，专利公开号：CN105627824 A)提供红外复合导引头整机装配与光学标校及测试技术领域，具体涉及一种复合导引头整机装配标校装置，目的在于解决现有技术无法解决对复合导引头整机标校的问题，与本专利通过可见光、微波和激光体制复合雷达的测试方法不同。

通过检索论文检索到两篇相关论文，其中论文《基于AD9959的多体制雷达信号源的设计》是针对ADI公司的AD9959设计的多通道、多体制的雷达信号源；论文《多辐射源多体制雷达信号模拟系统研究》主要产生一个多辐射源多体制雷达信号模拟系统，该系统可以产生常规脉冲、捷变频、重频参差抖动滑变、脉压雷达信号等多类雷达信号。以上均与本发明的设计思路和实现方法不同，本发明是将可见光、微波和激光三种体制的信号进行集成设计，形成多体制目标模拟装置实现高精度联合测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种多体制复合雷达高精度联合测试系统及测试方法，可以提供可见光、激光和微波模拟目标信号，能够同时为光学相机、激光雷达和微波雷达测试使用，实现对多体制复合雷达的高精度联合测试，具有试验效率高、测试过程简单、试验精度高等优点，并具有较强的普适性和实用性。

为实现上述目的，本发明通过以下技术方案实现：

一种多体制复合雷达高精度联合测试系统，用于在设置有二维扫描架的微波暗室中对多体制复合雷达实施高精度联合测试，包括：