[发明专利]一种芯片测试方法和系统在审
| 申请号： | 202111503065.4 | 申请日： | 2021-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN114281622A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 李育飞;桂晓峰;徐宏思;刘署 | 申请（专利权）人： | 成都海光集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 赵永刚 |
| 地址： | 610041 四川省成都市高新区天府大道*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试方法和系统，由服务器、交换机和至少一个通过交换机与服务器连接的测试机台组成，所述方法包括：经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；识别与所述测试机台对应的第一版本号，判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程；如果是，则根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。本发明能够通过测试机台根据其当前芯片的测试需求从服务器中获取对应测试用例进行更新，进而实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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