[发明专利]一种单光子光电器件的测量方法、装置有效
| 申请号： | 202111489887.1 | 申请日： | 2021-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN113884280B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 李梁 | 申请（专利权）人： | 武汉市聚芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 蒋雅洁;张颖玲 |
| 地址： | 430270 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种单光子光电器件的测量方法和测量装置，上位机向控制器发送针对第一单光子光电器件的第一指令，所述第一单光子光电器件为至少两个单光子光电器件中任一单光子光电器件；所述控制器基于所述第一指令导通第一电源通路和第一输出通路，所述第一电源通路为所述第一单光子光电器件与电源端之间通路，所述第一输出通路为所述第一单光子光电器件与输出端之间的通路；所述电源端通过所述第一电源通路向所述第一单光子光电器件施加偏置电压；所述第一单光子光电器件在施加所述偏置电压的情况下输出的信号通过所述第一输出通路输出至所述输出端，使得所述输出端将所述信号输出至测量设备，能够提高单光子光电器件的指标的测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光子 光电 器件 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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