[发明专利]检测或评估电离辐射损伤或暴露的试剂及其所用tRNA衍生片段有效

专利信息
申请号: 202111474076.4 申请日: 2021-12-03
公开(公告)号: CN114150054B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 危文俊;王菊芳;白皓;张亚楠;陈亚雄 申请(专利权)人: 中国科学院近代物理研究所
主分类号: C12Q1/6883 分类号: C12Q1/6883;C12N15/11
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 730013 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了检测或评估电离辐射损伤或暴露的试剂及其所用tRNA衍生片段。具体地公开了一种检测或评估电离辐射损伤或暴露的生物标志物tRF‑Gln‑CTG‑018、tRF‑Lys‑CTT‑008和tRF‑Lys‑TTT‑019。通过RT‑qPCR技术验证和ROC曲线分析,所述生物标志物基因表达水平与辐射暴露显著相关,在判断是否受到电离辐射时具有较高的特异性和敏感性,可作为支持个体遭受电离辐射损伤或暴露的依据。利用所述生物标志物评估受试者受电离辐射损伤或暴露风险的方法具有灵敏度高、特异性好、无创、检测快捷,稳定性好的特点,具有广泛的临床应用前景。
搜索关键词: 检测 评估 电离 辐射损伤 暴露 试剂 及其 所用 trna 衍生 片段
【主权项】:
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