[发明专利]基于SIFT特征匹配的多图像修补方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111425786.8 申请日: 2021-11-26
公开(公告)号: CN114066774A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 林立;吴航 申请(专利权)人: 上海艾麒信息科技股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T3/00;G06T5/30;G06T5/50;G06T7/33;G06T7/90
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 201100 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种基于SIFT特征匹配的多图像修补方法及系统,包括:获取待修补图像,获取所述待修补图像的一张或多张参考图像;计算所述带修补图像和所述参考图像匹配的SIFT特征点;根据所述带修补图像中所要修补的范围,在所述范围中寻找匹配的SIFT特征点,并计算匹配的SIFT特征点的闭包,通过三角剖分的方式将所述范围划分为多个三角形面片,通过三角形仿射变换将参考图像中对应的三角形面片贴到待修补图像对应的三角形面片上,得到修补后的图像。通过SIFT特征点匹配的方式,对需要修补的区域,从参考图片中去取相应的像素点进行修补。再通过图像和颜色融合的方式,实现修补后的内容与真实场景一致的效果。
搜索关键词: 基于 sift 特征 匹配 图像 修补 方法 系统
【主权项】:
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