[发明专利]抛物面天线的主反射面变形测量方法、补偿方法及系统在审
| 申请号： | 202111420550.5 | 申请日： | 2021-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN113937507A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 叶骞;王博阳;王锦清;刘庆会;沈志强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海天文台 |
| 主分类号： | H01Q15/16 | 分类号： | H01Q15/16;H01Q19/19;G01B21/32 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 200030*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种抛物面天线的主反射面变形测量方法、补偿方法及系统。该测量方法包括：获取设定区域上辐射信号的强度测量值，设定区域为以抛物面天线主反射面的焦点为球心的下半球面，且设定区域位于抛物面天线馈源的下方。根据 |
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| 搜索关键词： | 抛物面天线 反射 变形 测量方法 补偿 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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