[发明专利]基于自构回路的导电滑环接触电阻检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 202111406273.2 申请日: 2021-11-24
公开(公告)号: CN116165437A 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 孔祥苓;余莉;郭双红;冯涌泉;俞波;王明东;王志高;马子懿;高岩 申请(专利权)人: 航天科工惯性技术有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种基于自构回路的导电滑环接触电阻检测装置及检测方法,该检测装置包括继电器阵列单元,继电器阵列单元包括n个继电器组,任一继电器组包括一个第一继电器和一个第二继电器;继电器阵列控制单元用于控制第i个继电器组的第一继电器和第j个继电器组的第二继电器导通以将第i个滑环通道和第j个滑环通道串联接入电阻采样回路中;信号调理单元与电阻采样单元连接,用于根据电阻采样单元的电压输出获取调理后的电压信号;处理单元与信号调理单元连接,用于根据调理后的电压信号控制继电器阵列控制单元。应用本发明的技术方案,能够解决现有技术中导电滑环接触电阻检测装置体积大,检测成本高的技术问题。
搜索关键词: 基于 回路 导电 滑环 接触 电阻 检测 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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