[发明专利]一种极片涂布循迹测量系统及方法有效
| 申请号： | 202111395406.0 | 申请日： | 2021-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN114200079B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 张孝平;丁德甲;乔中涛;向建辉;姜志骐 | 申请（专利权）人： | 常州市大成真空技术有限公司;深圳市大成精密设备股份有限公司;东莞市大成智能装备有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00;G01D21/00;G05B19/04 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 廖金晖;彭家恩 |
| 地址： | 213000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种极片涂布循迹测量系统及方法，系统包括控制器、第一测量装置、第二测量装置和辊轮编码器，控制器分别与第一测量装置、第二测量装置和辊轮编码器信号连接，控制器用于获取脉冲信号，并计算辊轮编码器在第一测量装置启动扫描后至第二测量装置启动扫描前所产生的第一脉冲数，当第一脉冲数等于第一预设值时，控制器控制第二测量装置启动扫描。由于本测量系统采用一个控制器控制多个测量装置，能够降低多个测量装置之间的通信延迟，确保多次扫描的起始位置相同，进而保证了测量的准确性；同时，采用辊轮编码器进行计算极片的传送长度和控制第二测量装置的扫描，能够保证第一测量装和第二测量装置扫描的起到相同。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 极片涂布循迹 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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