[发明专利]一种极片涂布循迹测量系统及方法有效
申请号: | 202111395406.0 | 申请日: | 2021-11-23 |
公开(公告)号: | CN114200079B | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
发明(设计)人: | 张孝平;丁德甲;乔中涛;向建辉;姜志骐 | 申请(专利权)人: | 常州市大成真空技术有限公司;深圳市大成精密设备股份有限公司;东莞市大成智能装备有限公司 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00;G01D21/00;G05B19/04 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 廖金晖;彭家恩 |
地址: | 213000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 极片涂布循迹 测量 系统 方法 | ||
1.一种极片涂布循迹测量系统,其特征在于,包括控制器、第一测量装置、第二测量装置和辊轮编码器;
所述第一测量装置和所述第二测量装置分别用于扫描极片,所述第一测量装置和所述第二测量装置间隔设置;
所述辊轮编码器安装在极片托辊上,所述辊轮编码器用于在极片托辊转动时产生脉冲信号;
所述控制器分别与所述第一测量装置、第二测量装置和辊轮编码器信号连接,所述控制器用于获取脉冲信号,并计算所述辊轮编码器在所述第一测量装置启动扫描后至所述第二测量装置启动扫描前所产生的第一脉冲数,当第一脉冲数等于第一预设值时,所述控制器控制所述第二测量装置启动扫描。
2.如权利要求1所述的极片涂布循迹测量系统,其特征在于,所述控制器用于计算辊轮编码器的脉冲频率,并结合极片托辊的半径,计算出极片的走带速度;所述控制器控制第一测量装置以第一扫描速度Va启动扫描,同时计算出此时极片的第一走带速度V1;当第一脉冲数达到第一预设值时,所述控制器计算出此时极片的第二走带速度V2,再根据公式Va/V1=Vb/V2计算出第二扫描速度Vb;所述控制器控制第二测量装置以第二扫描速度Vb启动扫描。
3.如权利要求2所述的极片涂布循迹测量系统,其特征在于,所述第一测量装置设有第一纵向传感器,第一纵向传感器与所述控制器电连接,所述第一纵向传感器用于探测极片上的测量标记及生成第一纵向探测信号;所述第二测量装置上设有第二纵向传感器,第二纵向传感器与所述控制器电连接,所述第二纵向传感器用于探测极片上的测量标记及生成第二纵向探测信号;所述控制器用于计算所述辊轮编码器在第一纵向探测信号与第二纵向探测信号之间产生的脉冲数,并以此脉冲数为所述第一预设值。
4.如权利要求1所述的极片涂布循迹测量系统,其特征在于,所述第一测量装置中设有第一编码器,所述控制器用于控制所述第一测量装置的探测头在扫描功能关闭的状态下向极片边界运动,并计算在所述第一测量装置的探测头运动过程中所述第一编码器产生的第二脉冲数,当第二脉冲数等于第二预设值时,所述第一测量装置的探测头停止运动或者所述第一测量装置开启扫描功能。
5.如权利要求4所述的极片涂布循迹测量系统,其特征在于,所述第一测量装置设有第一横向传感器,所述第一横向传感器与所述控制器电连接,所述第一横向传感器与所述第一测量装置的探测头同步移动,所述第一横向传感器用于探测极片边界并生成第一横向探测信号;所述控制器用于计算第一编码器在第一测量装置的探测头开始运动至所述第一横向探测信号出现之间产生的脉冲数,并以此脉冲数为所述第二预设值。
6.如权利要求4所述的极片涂布循迹测量系统,其特征在于,所述第二测量装置设有第二编码器,所述控制器用于控制所述第二测量装置的探测头在扫描功能关闭的状态下向极片边界运动,并计算在所述第二测量装置的探测头运动过程中所述第二编码器产生的第三脉冲数,当所述第三脉冲数等于第二预设值时,所述第二测量装置的探测头停止运动或者所述第二测量装置开启扫描功能。
7.如权利要求1所述的极片涂布循迹测量系统,其特征在于,还包括第三测量装置,所述第三测量装置用于扫描极片,所述第一测量装置、所述第二测量装置和所述第三测量装置依次间隔设置;
所述控制器与所述第三测量装置信号连接,所述控制器用于获取脉冲信号,并计算所述辊轮编码器在所述第二测量装置启动扫描后至所述第三测量装置启动扫描之前产生的第四脉冲数,当第四脉冲数等于第三预设值时,所述控制器控制所述第三测量装置启动扫描。
8.一种极片涂布循迹测量方法,采用如权利要求1至7中任一项所述的极片涂布循迹测量系统实现,其特征在于,包括如下步骤:
控制第一测量装置启动扫描;
获取辊轮编码器生成的脉冲信号,并从第一测量装置启动扫描后开始累计计算第一脉冲数;
当累计的第一脉冲数等于第一预设值时,控制第二测量装置启动扫描。
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