[发明专利]一种封装外壳引线电阻的测量方法在审
| 申请号： | 202111334458.7 | 申请日： | 2021-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN114184841A | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 庞学满;李鑫 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人： | 叶立剑 |
| 地址： | 210016 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种封装外壳引线电阻的测量方法，包括以下步骤：（1）待测试封装外壳预处理；（2）引线电阻测量。通过测量加载在外壳引线上的电压与电流计算得到外壳引线电阻，避免了采用“直流电阻测试”所引入的接触电阻影响，可以准确测量出低于10毫欧姆以下的外壳引线真实电阻。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 封装 外壳 引线 电阻 测量方法 | ||
【主权项】：
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