[发明专利]一种目标发射率分布特性测量装置在审
申请号: | 202111323041.0 | 申请日: | 2021-11-09 |
公开(公告)号: | CN114034391A | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 安保林;董伟;宋旭尧;原遵东;赵云龙;卢小丰 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 北京君琅知识产权代理有限公司 16017 | 代理人: | 周燕 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种目标发射率分布特性测量装置,其包括:激光发生器,用于产生准直的红外激光束;准直器,用于控制激光束的发散角;激光入射端,用于调整激光输入的空间位置;旋转套筒,用于固定激光入射端,并实现其360°转动;积分球体,用于实现入射激光的多次反射;样件放置端,用于安装待测样件;探测器,用于将收集到的光信号转换成电信号;二维移动平台,用于实现所述激光发生器和激光功率稳定器的二维移动;第一和第二控制器,分别用于控制二维移动平台和旋转套筒。本发明的装置可实现待测样件的发射率空间分布特性,同时有效避免环境杂散光对测温结果的影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 目标 发射 分布 特性 测量 装置 | ||
【主权项】:
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