[发明专利]一种光谱共焦的面阵位移测量装置、测量方法及标定方法在审
| 申请号： | 202111260088.7 | 申请日： | 2021-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN114018157A | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 谢勇;许永童;马路明;孙城林;黄春志 | 申请（专利权）人： | 上海兰宝传感科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 赵迎迎 |
| 地址： | 201404 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种光谱共焦的面阵位移测量装置、测量方法及标定方法。该装置包括：宽光谱面阵光源、半反半透分光镜、色散物镜和光谱分析单元；宽光谱面阵光源包括面光源和第一阵列光阑以形成阵列光源，阵列光源出射后经半反半透分光镜和色散物镜照射在待测目标，反射光经色散物镜和半反半透分光镜成像在光谱分析单元；光谱分析单元包括第二阵列光阑、面阵感光芯片阵列和后端处理电路，反射光经第二阵列光阑照射在面阵感光芯片阵列，面阵感光芯片阵列进行光谱分析，并生成电平信号发到后端处理电路，后端处理电路对电平信号进行处理以生成位移测量结果。从而实现了面阵位移测量，仅通过简单计算即可完成测量过程，提高了面阵位移测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 位移 测量 装置 测量方法 标定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海兰宝传感科技股份有限公司，未经上海兰宝传感科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111260088.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种地板铆接工装
- 下一篇：一种PM显示面板及显示装置
