[发明专利]超导集成电路的功耗分析方法和装置、存储介质和终端在审
| 申请号： | 202111249698.7 | 申请日： | 2021-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN113987993A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 任洁;杨树澄;苟祥鸿;管泽浩;王镇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392;G06F119/02 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 刘逸潇 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超导集成电路的功耗分析方法和装置、存储介质和终端，其中方法包括：获取原理图数据和版图数据，基于原理图数据对待分析电路中的耗能器件进行仿真获取耗能器件的功耗数据，并获取所有耗能器件与对应时间功耗的映射关系；基于版图数据对版图进行重建获取重建版图，基于所属单元门的源点坐标和旋转方向分别获取所有耗能器件的绝对坐标；将所有耗能器件与对应时间功耗的映射关系和所有所述耗能器件的绝对坐标进行匹配，获取待分析电路的功耗等高线数据，并对功耗等高线数据进行渲染获取所述待分析电路的功耗分析结果。即本发明方法可用于辅助超导集成原理图、版图设计，优化超导集成电路的功耗设计，提高超导集成电路设计的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 超导 集成电路 功耗 分析 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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