[发明专利]超导集成电路的功耗分析方法和装置、存储介质和终端在审

专利信息
申请号: 202111249698.7 申请日: 2021-10-26
公开(公告)号: CN113987993A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 任洁;杨树澄;苟祥鸿;管泽浩;王镇 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G06F30/392 分类号: G06F30/392;G06F119/02
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 刘逸潇
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 超导 集成电路 功耗 分析 方法 装置 存储 介质 终端
【权利要求书】:

1.一种超导集成电路的功耗分析方法,包括:

获取待分析电路的原理图数据和版图数据,通过所述原理图数据获取所述待分析电路的电路网表和测试激励;

基于所述电路网表和测试激励对所述待分析电路中的耗能器件进行仿真,获取所有所述耗能器件的功耗数据,并对所有所述耗能器件的功耗数据进行处理获取所有所述耗能器件与对应时间功耗的映射关系;

基于所述版图数据对版图进行重建获取重建版图,基于重建版图分别获取所有耗能器件相对于所属单元门源点的相对坐标,并基于所属单元门的源点坐标和旋转方向分别获取所有所述耗能器件的绝对坐标;

将所有所述耗能器件与对应时间功耗的映射关系和所有所述耗能器件的绝对坐标进行匹配,获取所有所述耗能器件的绝对坐标与时间功耗的匹配关系数据;

基于所有所述耗能器件的绝对坐标与时间功耗的匹配关系数据获取所述待分析电路的功耗等高线数据,并对所述功耗等高线数据进行渲染获取所述待分析电路的功耗分析结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过SPICE仿真器对所述待分析电路中的耗能器件进行仿真。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述功耗数据为电流电压数据或功率数据。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述版图数据包括所有单元门的源点坐标、旋转方向、单元名和例化名。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,采用离散插值方式获取所述待分析电路的功耗等高线数图。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过静态渲染方式对所述功耗等高线数据进行渲染,获取待分析电路的静态功耗图像作为功耗分析结果。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过动态渲染方式对所述功耗等高线数据进行渲染,获取待分析电路的动态功耗视频作为功耗分析结果。

8.一种超导集成电路的功耗分析装置,其特征在于,包括数据获取模块、映射关系获取模块、绝对坐标获取模块、匹配模块和渲染模块;

所述数据获取模块,用于获取待分析电路的原理图数据和版图数据,通过所述原理图数据获取所述待分析电路的电路网表和测试激励;

所述映射关系获取模块,用于基于所述电路网表和测试激励对所述待分析电路中的耗能器件进行仿真,获取所有所述耗能器件的功耗数据,并对所有所述耗能器件的功耗数据进行处理获取所有所述耗能器件与对应时间功耗的映射关系;

所述绝对坐标获取模块,用于基于所述版图数据对版图进行重建获取重建版图,基于重建版图分别获取所有耗能器件相对于所属单元门源点的相对坐标,并基于所属单元门的源点坐标和旋转方向分别获取所有所述耗能器件的绝对坐标;

所述匹配模块,用于将所有所述耗能器件与对应时间功耗的映射关系和所有所述耗能器件的绝对坐标进行匹配,获取所有所述耗能器件的绝对坐标与时间功耗的匹配关系数据;

所述渲染模块,用于基于所有所述耗能器件的绝对坐标与时间功耗的匹配关系数据获取所述待分析电路的功耗等高线数据,并对所述功耗等高线数据进行渲染获取所述待分析电路的功耗分析结果。

9.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述超导集成电路的功耗分析方法。

10.一种终端,其特征在于,包括:处理器及存储器;

所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序,以使所述终端执行如权利要求1至7中任一项所述超导集成电路的功耗分析方法。

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