[发明专利]一种基于对抗生成网络的缺陷图像生成方法在审
| 申请号： | 202111240124.3 | 申请日： | 2021-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN114022586A | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 李斌;牛拴龙;唐立新;邱园红;牛通之;李威风;彭亚茹;林雨枫;李鹤 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00;G06T7/00;G06V10/774 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 孔娜 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于图像处理相关技术领域，其公开了一种基于对抗生成网络的缺陷图像生成方法，方法包括以下步骤：(1)采集工件的缺陷图像及无缺陷图像以分别构建缺陷数据集及无缺陷数据集，并对缺陷数据集进行像素级标注；(2)分别构建缺陷掩码输入模块及缺陷生成对抗网络；(3)构建缺陷方向向量模块；(4)构建缺陷注意损失，缺陷注意损失包括缺陷全图损失及缺陷区域损失；(5)训练缺陷生成对抗网络以得到缺陷生成参数模型，采用该缺陷生成参数模型生成缺陷图像。本发明能够生成“以假乱真”且超越现有采样数据空间限制的缺陷图像数据集，生成缺陷图像单张图像质量高，生成缺陷图像数据集缺陷多样性好，具有生成采样数据空间之外数据的能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 对抗 生成 网络 缺陷 图像 方法 | ||
【主权项】：
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